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X荧光光谱仪对准样品激发时最佳距离

发布时间:2019-04-23 12:34:12         点击:132

        X荧光光谱仪的放射源和探测器在相对位置不变的情况下,样品位置的改变将会给测量结果带来明显的影响。

X荧光光谱仪对准样品激发时最佳距离

X荧光光谱仪对准样品激发时最佳距离

在实际工作中,X荧光光谱仪探测器测定样品的X射线荧光强度时,探测器与样品之间的距离不同,记录到的荧光强度也不一样,所以必须在固定的几何条件下进行测量工作。在哪种几何条件下能得到最大的X射线荧光强度,保证较高的测量精度,对于探测器窗口直径不同的仪器,最佳距离也不同,没有一个固定的数值。

当放射源至样品的距离很大时,放射源的初级射线在样品表面的强度很小,所激发的X射线荧光强度也很小。

当放射源至样品的距离很小时,样品表面的放射源初级射线很强,但产生的荧光强度主要集中在放射源附近,产生的特征X射线被放射源本身挡住,不能被探测器记录,荧光强度的记录数值也就减小。

对于探测器窗口直径不同的X荧光光谱仪,最佳距离也不同,在设计仪器时,会考虑到仪器的检测距离,根据指示操作即可。

 

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